半導(dǎo)體芯片測試高低溫溫度沖擊試驗箱廠家

更新時間：2023-06-17

簡要描述：

半導(dǎo)體芯片測試高低溫溫度沖擊試驗箱廠家吊籃式冷熱沖擊試驗機用于光伏組件、LED燈管、LED燈具、電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件，無一不需要冷熱沖擊試驗箱的鑒定

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詳細介紹

一、半導(dǎo)體芯片測試高低溫溫度沖擊試驗箱廠家用途：

吊籃式冷熱沖擊試驗機用于光伏組件、LED燈管、LED燈具、電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件，無一不需要冷熱沖擊試驗箱的鑒定

二、半導(dǎo)體芯片測試高低溫溫度沖擊試驗箱廠家詳細參數(shù)：

一、產(chǎn)品屬性
1.1容積：80L
1.2工作室尺寸		350400350mm (寬×高×深)
1.3 外形尺寸		140019151950mm(寬×高×深)
1.4 沖擊形式		低溫高溫按程序自動交變，轉(zhuǎn)移樣品提籃，提籃式.
1.5供電電源		380V±10%,50Hz±1
二、主要技術(shù)參數(shù) 三、
2.1 高溫室	高溫蓄溫箱溫度范圍	+60℃～＋180℃
	高溫沖擊溫度	+60～150℃
2.2 低溫室	低溫蓄溫箱溫度范圍	-10℃～-60℃
	低溫沖擊溫度	-10℃～-40℃
2.3.工作室	溫度波動度	≤0.5℃
	溫度偏差	≤±2℃
	溫度均勻度	≤2.0℃（左右循環(huán)風(fēng)道溫度均勻性更完善）
	高低溫轉(zhuǎn)換時間	≤10S
	高低溫恢復(fù)時間	≤5min（空載下非線性）
	預(yù)熱區(qū)升溫速度	≥3~5℃/min（非線性）
	預(yù)冷區(qū)降溫速度	≥1.2℃/min（非線性）
2.4沖擊溫度范圍		-40~150℃
2.5噪音		70dB以內(nèi)
2.6化霜周期		1000次循環(huán)無需要化霜（常規(guī)30個循環(huán)就化霜）

2.7 滿足試驗標準	1、1.IEC 60068-2-14環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化,
	2、GB/T 2423.22環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化,
	3、GJB 150.5裝備實驗室環(huán)境試驗方法第5部分：溫度沖擊試驗,
	4、JESD 22-A106B.01-2016溫度沖擊等。。。